1、HN1019A直流接地故障查找儀直流系統故障測試儀
 

    該儀表可以快速查找直流系統間接接地、非金屬接地、環路接地、正負同時接地、正負平衡接地、多點接地等疑難故障，并且還能準確的顯示系統電壓、對地電壓、接地阻值，真正解決了運行及檢修人員。

儀表的構成：典型的電壓為7.5V-13.5V,這取決于生產廠商的產品。環路隔離器的輸出是電流隔離的，它是輸入電流的一個鏡象反應。伴生在輸出端的電壓比輸入端大大減小了，為7.5V左右。這就決定了它有350Q環路負載的能力，這種有限的環路驅動能力是環路隔離器的主要限制。兩線變送器兩線隔離變送器和環路隔離器有類似隔離功能，但增加了一些高級功能，它們可提供信號調節功能以適應輸入，如熱電偶、頻率、RT應力、直流電流以及其它過程輸入。

    該儀表由信號發生器、故障檢測器和信號采集器（鉗表）三部分組成，信號發生器與直流系統正負母線和地相連，當直流系統出現接地故障后，它會自動產生一個低頻小信號，故障檢測器與鉗表立于信號發生器，故障檢測器與鉗表之間使用連接線相連，通過對待檢測支路漏電流信號的采集、分析，從而判斷出該支路的絕緣情況。任何一起在使用過程中都可能操作失誤或者使用方法不當，造成測試數據錯誤，儀器的保費損害，為了增加使用的壽命和儀器的度我們應該從使用把關。不損壞試件材質、結構無損檢測的特點就是能在不損壞試件材質、結構的前提下進行檢測，所以實施無損檢測后，產品的檢查率可以達到。并不是所有需要測試的項目和指標都能進行無損檢測，無損檢測技術也有自身的局限性。某些試驗只能采用破壞性試驗，在目前無損檢測還不能代替破壞性檢測。 

   1) 高度采樣鉗表

    該儀表采用了高分辨率（0. 1mA）信號采樣直流鉗表，能夠實現對多點接地，高阻接地點的定位。

   2) 接地點方向顯示

    該儀表具有接地點方向顯示功能，包括：液晶屏顯示、指示燈指示、語音提示三種方向顯示方式，可以快速的處理復雜支路或環路中接地點的定位。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。手持式光譜儀的應用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航天、地質勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦產貿易、金屬冶煉、環境監測、土壤監測、玩具、服裝、鞋帽、電子產品等眾多領域。便宜、快速的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購質量控制的有力工具。拉曼光譜儀是快速鑒定未知化合物的有力工具，檢測高純度化學品、成分驗證和高分子材料的表征。

   3) 具有絕緣指數顯示功能

    絕緣指數是為分析待測支路絕緣程度而引入說法，以0—100的數字形式來反映被測支路的絕緣程度，數字越大表示絕緣越差，該指數結合高度鉗表非常有利于多點接地與高阻接地的檢測。

   4) 具有波形顯示功能

    所謂波形顯示，即在檢測過程中檢測器所搜索到的信號發生器的波形,其在查找接地過程中有非常重要的作用，合理利用檢測器中的波形顯示，可以大幅度的提升設備的檢測范圍與檢測度以判斷的準確度。

   5) 多量程轉換功能X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。手持式光譜儀的應用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航天、地質勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦產貿易、金屬冶煉、環境監測、土壤監測、玩具、服裝、鞋帽、電子產品等眾多領域。便宜、快速的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購質量控制的有力工具。拉曼光譜儀是快速鑒定未知化合物的有力工具，檢測高純度化學品、成分驗證和高分子材料的表征。

    儀表具有多量程轉換功能，在測試過程可以轉換不同量程，可以大幅度的提升設備的檢測范圍與檢測度以判斷的準確度。

   6) 操作簡單，使用方便、快速

    使用時只需將鉗表鉗住待測支路，按一下工作按鍵，3～6S即可完成一條支路的檢測。

   7) 信號發生器與檢測器不受距離限制2015-2020年伺服市場規模伺服系統是以變頻技術為基礎發展起來的產品，是一種以機械位置或角度作為控制對象的自動控制系統。伺服系統除了可以進行速度與轉矩控制外，還可以進行、快速、穩定的位置控制。伺服系統工作方式目前應用為廣泛的電氣伺服系統，通常伺服系統包括伺服驅動器和伺服電機，以及伺服反饋裝置。伺服驅動器屬于自動化控制系統中的驅動層，伺服電機屬于執行層。伺服驅動器和伺服電機如今已經成為智能制造的*品。

    在復雜的直流系統中，信號發生器接入點可能與接地查找點有著很長的一段距離，不過檢測器并不受此距離的限制，可以在同一個系統中的任何一點進行查找。

   8) 運行安全、可靠

信號發生器是需要接入直流系統之中的，這就對設備的安全性與根據直流系統現場的實際情況，信號發生器可智能式產生1.0～5.0mA的信號電流，且大功率小于0.2W，適用于各類直流系統，對直流系統的安全運行、可靠運行提供了保障。

直流系統故障測試儀半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。便攜式電子產品與我們的生活日益密切，使用可穿戴設備已經成為消費新潮流。在市場日益顯著增長的同時，如何提高電量計的準確性成為了亟待解決的問題。傳統內置于可穿戴設備的電量計可提供的度約±8%。因此如果指示器顯示剩余電量為10%，那么實際值可能低至2%。用戶往往以為設備可以再工作一段時間，而系統卻突然意外關閉，丟失未保存的關鍵數據和工作，為用戶的使用帶來不便。試想如果這種故障發生在環境，還有可能危及生命。